Difraksi
sinar–X merupakan suatu metode analisis yang didasarkan pada interaksi antara
materi dengan radiasi elektromagnetik sinar-X (mempunyai λ sebesar 0,5 – 2,5 Ao
dan energi + 107 eV) yaitu pengukuran radiasi sinar-X yang
terdifraksi oleh bidang kristal. Penghamburan sinar-X oleh unti-unit padatan
kristalin, akan menghasilkan pola difraksi yang digunakan untuk menentukan
susunan partikel pada kisi padatan.
Spektrum
sinar-X terdiri dari spektrum yang kontinyu dan diskrit. Spektrum kontinyu atau
spektrum putih dihasilkan oleh potensial yang lebih rendah dari 20 kV. Proses
terjadinya adalah berkas elektron dengan energi yang kurang tinggi tidak dapat
menembus awan elektron dalam atom target, tetapi akan terserap oleh awan
tersebut dan diubah menjadi awan panas.
Spektrum diskrit atau karakteristik atau khas dihasilkan oleh potensial lebih
tinggi dari 20 kV.
Radiasi
sinar-X mrupakan radiasi polikromatis, untuk mendapatkan radiasi yang monokromatis
digunakan filter. Syarat logam filter : λ Ka-T <λ K-F < λKβ-T, dapat menyerap radiasi a dan β serta mempunyai nomor atom < 1 satuan dari nomor atom target.
Contoh-contoh logam target dengan filter yang sesuai adalah tercantum pada
Tabel 3.
Tabel 3. Contoh-contoh Logam
Target dengan Filter yang Sesuai
|
Logam target
|
Mo Cu
Co Fe Cr
|
|
Logam filter
|
Zr Ni Fe Mn V
|
Pada tahu 1913, tak lama setelah sinar-X
ditemukan oleh Willhem Rotgen, Max Van Loe berpendapat bahwa jika sinar-X
dengan λ yang jarak = jarak antara bidang kristal (d) maka akan didifraksi oleh
bidang kristal tersebut. Pendekatan paling awal pada analisis pola difraksi
yang dihasilkan oleh kristal, dengan menganggap bidang kisi sebagai cermin dan
kristal sebagai tumpukan bidang kisi pemantul dengan pemisahan d (Gambar 7).
Sesuai dengan Hukum Bragg : jika dua berkas sinar-X yang pararel mengenai
bidang-bidang kisi kristal yang sama dengan jarak antar bidang (d), maka
perbedaan jarak yang ditempuh kedua kedua sinar tersebut berbanding langsung
dengan panjang gelombangnya.
Tidak ada komentar:
Posting Komentar